
Tof-SIMS
O que é SIMS?
A Espectrometria de Massa de Iões Secundários (Secondary Ion Mass Spectrometry) é uma espectrometria de massa de partículas ionizadas. Estas partículas são emitidas de superfícies sólidas sob bombardeamento de iões primários com muita energia. As partículas emitidas ou 'secundárias' são electrões, átomos e moléculas neutros e iões atómicos e moleculares. Apesar da maioria das partículas secundárias serem neutras, são as os iões secundários que são analizados e detectados pelo espectrómetro de massa.

Tof-SIMS (Time-of-Flight SIMS)
Tof-SIMS é a combinação da técnica analítica SIMS com um tipo especial de analisador de massa e uma fonte de iões pulsada. O nosso Tof-SIMS é baseado num analisador do tipo Poschenreider.
As vantagens do Tof-SIMS sobre outras técnicas são as seguintes:
- Detecção paralela de todos os iões com excelente resolução evitando a necessidade de se fazer um varrimento de massa.
 - Elevada transmissão, i.e., a razão do número de partículas detectadas pelo número de iões que entram no analisador é elevado.
 - Não tem limite de massa superior— pode ser usado para biomaterials, isoladores, polímeros, etc.
 - Alta sensibilidade (<1ppm para elementos) e consequentemente baixa taxa de degradação da amostra.
 

A principal limitação desta técnica é a de não ser facilmente quantitativa (apenas por comparação com materiais ou amostras de referência).
Modos de operação:
1 Static SIMS— aplicação de doses muito baixas de iões primários resultando numa análise quase não-destrutiva;
2 Imaging— Varrendo o feixe primário muito bem focado sobre a superfície é possível obter imagens resolvidas em massa de iões secundários (chemical images);
3 Análise em profundidade— SIMS dinâmico (depth profiling): com dose elevadas de iões primários é possível analisar camada por camada e obter a distribuição em profundidade da composição.
Materiais:
- Semiconductores
 - Polimeros
 - Pinturas e revestimentos
 - Biomateriais
 - Medicamentos
 - Vidro
 - Papel
 - Metais
 - Cerâmicas
 

- Análise de fadiga
 - Controlo de qualidade
 - Desenvolvimento
 - Engenharia inversa
 - Investigação
 
- Contaminação
 - Aderência
 - Atrito
 - Propriedades superficiais
 - Corrosão
 - Difusão
 - Segregação
 - Bioquímica
 - Biocompatibilidade
 


      
             
         
      