análises

Visto que o METROVAC está integrado no Grupo de Ciência de Superfícies e Tecnologia de Vácuo, disponibilizamos também algumas análises de materiais por técnicas avançadas usadas rotineiramente em investigação científica.

Assim oferecemos à comunidade empresarial e a outros grupos de investigação, as seguintes análises:

Estas técnicas permitem a análise de amostras sólidas com excelente limite de detecção (Tof-SIMS), boa informação química (XPS), boa resolução lateral (AES e Tof-SIMS) e excepcional resolução em profundidade (Tof-SIMS). Também permitem o mapeamento da composição de uma amostra (Tof-SIMS e AES).

Para mais informações e pedidos de orçamento utilize os nossos contactos.