Análises
Visto que o METROVAC está integrado no Grupo de Ciência de Superfícies e Tecnologia de Vácuo, disponibilizamos também algumas análises de materiais por técnicas avançadas usadas rotineiramente em investigação científica.
Assim oferecemos à comunidade empresarial e a outros grupos de investigação, as seguintes análises:
- Espectrometria de massa de iões secundário por tempo-de-vôo (Tof-SIMS— Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry);
- Espectroscopia de foto-electrões (XPS— X-Ray Photoelectron Spectroscopy);
- Espectroscopia de electrões de Auger (AES— Auger Electron Spectroscopy).
